標(biāo)準(zhǔn)信息

標(biāo)準(zhǔn)號：

GB/T 41765-2022

標(biāo)準(zhǔn)名稱：

碳化硅單晶位錯密度的測試方法

發(fā)布日期：

2022-10-14

實施日期：

2023-05-01

批發(fā)部門：

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

歸口單位：

全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

起草單位：

北京天科合達(dá)半導(dǎo)體股份有限公司、有色金屬技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究院有限責(zé)任公司

起草人：

彭同華、佘宗靜、趙寧、王波、李素青、婁艷芳、王大軍、郭鈺、楊建

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本文件規(guī)定了碳化硅單晶位錯密度的測試方法。

本文件適用于晶面偏離{0001}面、偏向{1120}方向0°~8°的碳化硅單晶位錯密度的測試。

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檢測優(yōu)勢

檢測資質(zhì)（部分）

檢測流程

1、中析檢測收到客戶的檢測需求委托。

2、確立檢測目標(biāo)和檢測需求

3、所在實驗室檢測工程師進(jìn)行報價。

4、客戶前期寄樣，將樣品寄送到相關(guān)實驗室。

5、工程師對樣品進(jìn)行樣品初檢、入庫以及編號處理。

6、確認(rèn)檢測需求，簽定保密協(xié)議書，保護(hù)客戶隱私。

7、成立對應(yīng)檢測小組，為客戶安排檢測項目及試驗。

8、7-15個工作日完成試驗，具體日期請依據(jù)工程師提供的日期為準(zhǔn)。

9、工程師整理檢測結(jié)果和數(shù)據(jù)，出具檢測報告書。

10、將報告以郵遞、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。

檢測優(yōu)勢

1、旗下實驗室用于CMA/CNAS/ISO等資質(zhì)、高新技術(shù)企業(yè)等多項榮譽(yù)證書。

2、檢測數(shù)據(jù)庫知識儲備大，檢測經(jīng)驗豐富。

3、檢測周期短，檢測費用低。

4、可依據(jù)客戶需求定制試驗計劃。

5、檢測設(shè)備齊全，實驗室體系完整

6、檢測工程師 知識過硬，檢測經(jīng)驗豐富。

7、可以運用36種語言編寫MSDS報告服務(wù)。

8、多家實驗室分支，支持上門取樣或寄樣檢測服務(wù)。

檢測實驗室（部分）

結(jié)語

以上為GB/T 41765-2022 碳化硅單晶位錯密度的測試方法的檢測服務(wù)介紹,如有其他疑問可聯(lián)系在線工程師！